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信噪比的 PDA 微型光譜儀

VS70-PDA OEM 光電二極管陣列光譜儀是一種高性能緊湊型光纖耦合光譜儀，覆蓋 200 至 1000 nm 的寬光譜范圍。這種用于工業(yè)應用的 VS70 系統(tǒng)使用經(jīng)過改進的 VS70 光學引擎，配備 Horiba 的 IV 型像差校正平場全息離子蝕刻凹面光柵，針對 UV-VIS 和線性光電二極管陣列進行了優(yōu)化。

該系統(tǒng)配備定制的多區(qū)域有序分類過濾器以消除更高階次，并采用單光學設計，可實現(xiàn)出色的成像、高靈敏度、高分辨率和低雜散光性能，適用于強光應用，例如發(fā)射、吸光度和反射率。

對于 OEM 工業(yè)應用

工業(yè)強光應用的理想選擇，例如發(fā)射、吸光度和反射率
示例：

制藥與生命科學
半導體
液相色譜
環(huán)境、農(nóng)業(yè)和能源

特征

高光譜采集速度（高讀出速度 3.5 ms）
從紫外到近紅外的寬光譜覆蓋范圍
巨大的 PDA 全井高達 1 Ge–，比任何 CCD 深 100 倍以上
高信噪比結(jié)合超低雜散光
具有平滑變化的光譜響應的高紫外線靈敏度
高吞吐量
緊湊的尺寸堅固性和穩(wěn)定性

OEM 光譜儀選擇指南

規(guī)格

一般光譜儀規(guī)格*
光譜覆蓋	標準：UV-VIS (200–860 nm)，帶 477 l/mm 光柵，VIS (380–750 nm)，帶 582 l/mm 光柵，UV-NIR (200–1050 nm)，帶雙閃耀 365 l/mm 光柵根據(jù)要求提供其他光譜范圍/可能需要不同的機械集成
光譜儀輸入	光纖耦合：FC或SMA；自由空間：12-25-37-50-62-75-100-125-150-200 μm 狹縫，可根據(jù)要求提供其他選項
光譜分辨率	2 nm 用于 365 l/mm 光柵，1 nm 用于 477 l/mm 光柵，0.8 nm 用于 582 l/mm 光柵（所有 25 μm 狹縫）
平均光譜色散	365 l/mm 光柵為 30.9 nm/mm，477 l/mm 光柵為 23.7 nm/mm， 582 l/mm 光柵為 16.3 nm/mm
焦距	70 毫米
選項	選用高檔傳感器：CMOS、BI CCD、PDA 輸入端口：SMA、FC、自由空間、自定義輸入
F/＃	光圈/2.3
雜散光抑制典型值（值）	0.01% (0.02%) 用于具有 300 μm 高 CCD 的 UV-VIS 配置，在 700 nm 處測量（使用寬帶通 510 nm 濾光片，75 μm 狹縫寬度測量） > 2.4 AU 線性范圍（5% 變化）， 273 nm 10 mm 比色皿和 D 2燈中的吸收峰。
波長準確度	≤ 0.2 nm（平均波長誤差）
軟件**	用于初始評估的 LabVIEW™ 采集軟件（為軟件集成提供的 DLL）

可滾動

檢測器選項和規(guī)格*
高靈敏度、高動態(tài)范圍線性光電二極管陣列
探測器型號	Hamamatsu S10123-1024N 具有更高的紫外線靈敏度和在紫外線區(qū)域和寬光敏區(qū)域平滑變化的光譜響應特性
傳感器格式	1024 x 1 像素（可應要求提供 512 像素）
PDA 像素大小	25 x 500 μm（可應要求提供更高的 2500 μm 版本）
PDA 活動區(qū)域	25.6 x 0.5 毫米
掌上電腦QE	見下圖
傳感器溫度	未冷卻
頻譜率
滿井容量	100 Me-（1 Ge- 可選）
讀出噪聲	3,900 e-（典型值）；5,250（）
數(shù)字化	16位
動態(tài)范圍 (FW/RN)
信噪比	10,000:1（典型值）
非線性（在每個系統(tǒng)上測量）	< 0.4%（校正后）
暗電流	200,000 e-/pix/s（典型值）；250,000 e-/pix/s（）
溝通	USB 2
環(huán)境條件	工作溫度 15° C 至 40° C 環(huán)境溫度相對濕度 <70%（非冷凝）存儲溫度 -25° C 至 45° C
電源要求	由 Samtec 連接器供電，5 VDC